对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗，用滤纸擦干，保持表面清洁，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定)，调整试样，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换至高放大倍数对试样聚焦，调整载物台及试样，使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备，使测量面聚焦清晰，选择测量点位。
对比试样校准如何防止探头打滑？
由于压力容器的所有被检测部位都是弯曲的，探头与容器的接触面是平面，检测过程中技术人员需要手持探头紧贴被检测部位，而大量被检测部位就在容器的正下方或侧面。探头与被检测部位接触后，仪器需要20秒左右的反应时间。在此期间，试样校准哪家好，技术人员应稳定地握住探头，不能有任何晃动，试样校准，否则检测的数据会发生漂移，需要重新检测。工作初期，由于上述原因，需要大量的测点/要重新测量，现场技术人员经过认真分析，找到了对策，解决了这个难题。
1.在不同规格的探头与容器的接触面上安装防滑垫，有效防止了打滑的问题。
2.用紧绳器固定探头。做一个类似长途货车的紧绳器来系货物，但是紧绳器的绑带要窄很多，试样校准方案，这样才能和探头上的手柄相配。对于一些特殊的检查部位(尤其是被检查集装箱的正下方)，将绳索收紧器穿过探头，然后将探头移动到被检查部位，找出检查位置并拧紧，这样就解决了这些特殊部位打滑的问题。
对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，试样校准机构，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
