对比试样校准介绍
用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。
对比试样校准检测
可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 kHz~250 kHz的宽频扫查，并可进行频扫图像显示、A扫信号显示和包络显示，对比试样/块校准报价，可对A扫信号进行DAC(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测，考虑到试块需加工内部球孔缺陷，所以取管道原长度的1/2进行加工，对比试样/块校准，由于无法采用传统线圈探头进行检测，所以采用板波探头进行检测，换能器的设计分为柔性和硬性两部分，其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。
对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，对比试样/块校准方案，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，对比试样/块校准哪家好，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
