对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，试样校准方案，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
对比试样校准的测试条件
一. 基体表面曲率 在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，试样校准机构，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。 二.基体金属较小厚度 基体金属必须有一个给定的较小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，较小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，试样校准报价，便可以得到准确的直读厚度值。
二. 如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，试样校准，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。测量该点的覆层厚度，需要在相同条件的无覆层表面进行预先校准后测量。
对比试样校准使用注意事项
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
