对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗,用滤纸擦干,保持表面清洁,无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定),调整试样,使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下,先用低放大倍数(10×或20×)找到人工缺陷位置,再换至高放大倍数对试样聚焦,调整载物台及试样,使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备,标准试样/块校准机构,使测量面聚焦清晰,选择测量点位。
对比试样校准概述
是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;
对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,标准试样/块校准,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,标准试样/块校准报价,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有射线源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。